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差熱分析儀 /差熱檢測儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

差熱分析儀 /差熱檢測儀 型號:DP/DZ3331
產(chǎn)品介紹:
差熱分析是在程序控制溫度下,測量物質(zhì)與參比物之間的溫度差與溫度關(guān)系的種。差熱分析曲線(xiàn)是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時(shí)間的變化關(guān)系。在DTA試驗中,樣品溫度的變化是由于相轉變或反應的吸熱或放熱效應引起的。如:相轉變,熔化,結晶結構的轉變,沸騰,升華,蒸發(fā),脫氫反應,斷裂或分解反應,氧化或還原反應,晶格結構的破壞和其他化學(xué)反應。

產(chǎn)品型號:DP/DZ3331
更新時(shí)間:2017-11-06
廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
訪(fǎng)問(wèn)量:815

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差熱分析儀 /差熱檢測儀 型號:DP/DZ3331
產(chǎn)品介紹:
差熱分析是在程序控制溫度下,測量物質(zhì)與參比物之間的溫度差與溫度關(guān)系的種。差熱分析曲線(xiàn)是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時(shí)間的變化關(guān)系。在DTA試驗中,樣品溫度的變化是由于相轉變或反應的吸熱或放熱效應引起的。如:相轉變,熔化,結晶結構的轉變,沸騰,升華,蒸發(fā),脫氫反應,斷裂或分解反應,氧化或還原反應,晶格結構的破壞和其他化學(xué)反應。
參數:
1. 溫度范圍: 室溫~1350℃ 
2. 量程范圍: 0~±2000μV 
3. DTA度: ±0.1μV 
4. 升溫速率: 1~80℃/min 
5. 溫度分辨率: 0.1℃ 
6. 溫度準確度: ±0.1℃ 
7. 溫度重復性: ±0.1℃ 
8. 溫度控制: 升溫:程序控制        可根據需要行參數的調整
             降溫:風(fēng)冷 程序控制   可選配 半導體冷卻系統、液氮冷卻系統 等
             恒溫:程序控制        恒溫時(shí)間意設定
9. 爐體結構: 爐體采用上開(kāi)蓋式結構,代替了傳統的升降爐體,度,易于操作
10. 氣氛控制: (選配)氣體流量計,氣氛轉換裝置
11. 數據接口: 標準USB接口  配套數據線(xiàn)和操作軟件
12. 主機顯示: 24bit色 7寸 LCD觸摸屏顯示
13. 參數標準: 配有標準物,帶有鍵校準能,用戶(hù)可自行對溫度行校正
14. 基線(xiàn)調整: 用戶(hù)可通過(guò)基線(xiàn)的斜率和截距來(lái)調整基線(xiàn)
15. 作電源: AC 220V  50Hz

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